Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F1892-26
Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.6.2026
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F1892-26
Datum vydání normy: 1.6.2026
Kód zboží: NS-1276033
Počet stran: 42
Přibližná hmotnost: 126 g (0.28 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ASTM F1892-26 :
Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
