Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F1467-25
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (?10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.6.2025
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F1467-25
Datum vydání normy: 1.6.2025
Kód zboží: NS-1223065
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy ASTM F1467-25 :
Keywords:
ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
