ASTM F1467-18

Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.3.2018


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1840.60 bez DPH
1 840.60

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1467-18
Datum vydání normy: 1.3.2018
Kód zboží: NS-844675
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Elektronické součásti všeobecně

Anotace textu normy ASTM F1467-18 :

Keywords:

ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.