Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Method of Test for Thickness of Epitaxial Layers of Silicon by Measurement of Stacking Fault Dimension (Withdrawn 1985)
Automaticky přeložený název:
Metoda testu pro Tloušťka epitaxních vrstev křemíku měřením stohování chyb dimenze (Withdrawn 1985 )
Jazyk | |
Provedení |
|
Dostupnost | SKLADEM |
Cena | NA DOTAZ bez DPH |
NA DOTAZ |
Označení normy: ASTM F143-73(1978)
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-50262
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.