Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Determining the Mean Interface Trap Density of Mosfets by Charge-Pumping (Withdrawn 1997)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro stanovení Mean Interface Trap Hustota Mosfets podle Charge - čerpací (Withdrawn 1997 )
Označení normy: ASTM F1340-92
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-49950
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 17.12.2025 (Počet položek: 2 252 317)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.