Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
Automaticky přeložený název:
Standardní Příručka pro analýzu dat v Overtest Radiační testování elektronických součástek
NORMA vydána dne 10.12.1999
Označení normy: ASTM F1263-99
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1999
Kód zboží: NS-49675
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
1. Scope | ||
1.1 This guide covers the use of overtesting in order to reduce the required number of parts that must be tested to meet a given quality acceptance standard. Overtesting is testing a sample number of parts at a stress higher than their specification stress in order to reduce the amount of necessary data taking. This guide discusses when and how overtesting may be applied to forming probabilistic estimates for the survival of electronic piece parts subjected to radiation stress. Some knowledge of the probability distribution governing the stress-to-failure of the parts is necessary though exact knowledge may be replaced by over-conservative estimates of this distribution. |
||
2. Referenced Documents | ||
|
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 03.05.2024 (Počet položek: 2 896 946)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.