Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.12.2019
Označení normy: ASTM F1263-11(2019)
Datum vydání normy: 1.12.2019
Kód zboží: NS-978398
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
confidence, overtest data, rejection, statistical analysis ,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
Significance and Use | ||
5.1 Overtesting should be done when (1.1 This guide covers the use of overtesting in order to reduce the required number of parts that must be tested to meet a given quality acceptance standard. Overtesting is testing a sample number of parts at a stress level higher than their specification stress in order to reduce the amount of necessary data taking. This guide discusses when and how overtesting may be applied to forming probabilistic estimates for the survival of electronic piece parts subjected to radiation stress. Some knowledge of the probability distribution governing the stress-to-failure of the parts is necessary, although exact knowledge may be replaced by over-conservative estimates of this distribution. 1.2 This international standard was developed in accordance with internationally recognized principles on standardization established in the Decision on Principles for the Development of International Standards, Guides and Recommendations issued by the World Trade Organization Technical Barriers to Trade (TBT) Committee. |
||
2. Referenced Documents | ||
|
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 05.05.2024 (Počet položek: 2 897 047)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.