ASTM F1263-11

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

Automaticky přeložený název:

Standardní Příručka pro analýzu dat v Overtest záření testování elektronických součástek



NORMA vydána dne 1.6.2011


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1593.80 bez DPH
1 593.80

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1263-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2011
Kód zboží: NS-49673
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Elektronické součásti všeobecně

Anotace textu normy ASTM F1263-11 :

Keywords:

confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.