Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Specification for Refractory Silicide Sputtering Targets for Microelectronic Applications
Automaticky přeložený název:
Standardní specifikace pro Refrakterní silicidu rozprašování cíle pro mikroelektronických aplikací
NORMA vydána dne 10.12.1999
Označení normy: ASTM F1238-95(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1999
Kód zboží: NS-49599
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
density, microelectronics, molybdenum, disilicide, refractory silicides, sputtering, sputtering targets, tantalum disilicide, titanium disilicide, tungsten disilicide, ICS Number Code 31.100 (Electronic tubes)
| 1. Scope |
|
1.1 This specification covers sputtering targets fabricated from metallic silicides (molybdenum silicide, tantalum silicide, titanium silicide, and tungsten silicide). These targets are referred to as refractory silicide targets, and are intended for use in microelectronic applications. 1.2 The values stated in SI units are regarded as standard. |
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 20.01.2026 (Počet položek: 2 257 233)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.