Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
Automaticky přeložený název:
Příručka pro radiační testování polovodičových pamětí (Withdrawn 1993 )
Označení normy: ASTM F1191-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-49447
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 12.02.2026 (Počet položek: 2 260 708)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.