Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Using Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry to Measure the Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides (Withdrawn 1993)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro použití Computer- Assisted Infrared Spectrophotometry změřit Intersticiální obsah kyslíku v Silicon plátky na obou stranách vyhladila (Withdrawn 1993 )
Označení normy: ASTM F1189-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-49439
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.