Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Using Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry to Measure the Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides (Withdrawn 1993)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro použití Computer- Assisted Infrared Spectrophotometry změřit Intersticiální obsah kyslíku v Silicon plátky na obou stranách vyhladila (Withdrawn 1993 )
Označení normy: ASTM F1189-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-49439
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Poslední aktualizace: 14.05.2026 (Počet položek: 2 277 490)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.