Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers
Automaticky přeložený název:
Standardní zkušební metoda pro Rozměry zářezů na křemíkových plátků
NORMA vydána dne 10.1.2002
Označení normy: ASTM F1152-93(2001)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2002
Kód zboží: NS-49311
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
notch, notch dimension, optical comparator, silicon, wafer, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
1. Scope |
This standard was transferred to SEMI (www.semi.org) May 2003 1.1 This test method covers a nondestructive procedure to determine whether or not the dimensions of fiducial notches on silicon wafers fall within specified limits. 1.2 The values stated in SI units are to be regarded as the standard. The values given in parentheses are for information only. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 02.05.2024 (Počet položek: 2 896 910)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.