Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Includes all amendments And changes 8/13/2021).
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.1.1988
Označení normy: ASTM F108-88e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1988
Kód zboží: NS-1032891
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Poslední aktualizace: 18.10.2024 (Počet položek: 2 205 605)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.