Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Withdrawn 1993)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro odporem Silicon epitaxních vrstev Three -Probe napětí Poruchové metody (Withdrawn 1993 )
Jazyk | |
Provedení |
|
Dostupnost | SKLADEM |
Cena | NA DOTAZ bez DPH |
NA DOTAZ |
Označení normy: ASTM F108-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-49051
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.040.01 (Resistors in general)
Poslední aktualizace: 18.10.2024 (Počet položek: 2 205 605)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.