Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F108-88
Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Withdrawn 1993)
Automaticky přeložený název:
Zkušební metoda pro odporem Silicon epitaxních vrstev Three -Probe napětí Poruchové metody (Withdrawn 1993 )
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | do 1 pracovních dnů |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F108-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód zboží: NS-49051
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F108-88 :
Keywords:
ICS Number Code 31.040.01 (Resistors in general)
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
