Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron and X-ray Photoelectron Spectroscopy
Automaticky přeložený název:
Standardní Průvodce pro odečet pozadí technik v Auger Electron a X - ray fotoelektronové spektroskopie
NORMA vydána dne 10.2.1997
Označení normy: ASTM E995-97
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.2.1997
Kód zboží: NS-48727
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy, surface analysis, X-ray photoelectron spectroscopy, background subtraction, ICS Number Code 17.180.30 (Optical measuring instruments)
1. Scope | ||||
1.1 The purpose of this guide is to familiarize the analyst with the principal background subtraction techniques presently in use together with the nature of their application to data acquisition and manipulation. 1.2 This guide is intended to apply to background subtraction in electron, X-ray, and ion-excited Auger electron spectroscopy (AES), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). 1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||
2. Referenced Documents | ||||
|
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 04.07.2025 (Počet položek: 2 207 347)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.