Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.4.2024
Označení normy: ASTM E986-04(2024)
Datum vydání normy: 1.4.2024
Kód zboží: NS-1170498
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST–SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform ,, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices),37.020 (Optical equipment)
Poslední aktualizace: 12.06.2026 (Počet položek: 2 281 969)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.