Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.4.2024
Označení normy: ASTM E986-04(2024)
Datum vydání normy: 1.4.2024
Kód zboží: NS-1170498
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST–SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform ,, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices),37.020 (Optical equipment)
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 02.05.2026 (Počet položek: 2 275 366)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.