Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM E766-98
Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope
Automaticky přeložený název:
Standardní praxe pro kalibraci zvětšení rastrovacího elektronového mikroskopu
NORMA vydána dne 10.12.1998
Informace o normě:
Označení normy: ASTM E766-98
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1998
Kód zboží: NS-47926
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM E766-98 :
Keywords:
Calibration-microscopes, Scanning electron microscope (SEM), scanning electron microscopes (SEM´s), practice,, Electron microscopy, Scanning electron microscope (SEM), calibrating the magnification of scanning electron microscopes (SEM´s),, practice, ICS Number Code 37.020 (Optical equipment)
Doplňující informace
| 1. Scope | ||||||||||||
|
1.1 This practice is designed to calibrate the magnification of scanning electron microscopes (SEMs) using the National Institute of Standards and Technology (NIST) calibration specimen Standard Reference Material (SRM)484. Since the relationship between true magnification and magnification indicated on the SEM readout may be different at different magnifications, this practice must be applied to each magnification for which true magnification is desired. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||||
|
Doporučujeme:
