ASTM E766-98

Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope

Automaticky přeložený název:

Standardní praxe pro kalibraci zvětšení rastrovacího elektronového mikroskopu



NORMA vydána dne 10.12.1998


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1734.50 bez DPH
1 734.50

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E766-98
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1998
Kód zboží: NS-47926
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E766-98 :

Keywords:

Calibration-microscopes, Scanning electron microscope (SEM), scanning electron microscopes (SEM´s), practice,, Electron microscopy, Scanning electron microscope (SEM), calibrating the magnification of scanning electron microscopes (SEM´s),, practice, ICS Number Code 37.020 (Optical equipment)

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.