Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM E673-02
Standard Terminology Relating to Surface Analysis
Automaticky přeložený název:
Standardní Terminologie V souvislosti se povrchová analýza
NORMA vydána dne 10.7.2002
Informace o normě:
Označení normy: ASTM E673-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.7.2002
Kód zboží: NS-47607
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM E673-02 :
Keywords:
terminology, ICS Number Code 01.040.17 (Metrology and measurement. Physical phenomena (Vocabularies)),17.040.20 (Properties of surfaces)
Doplňující informace
| 1. Scope |
|
1.1 This terminology is related to the various disciplines involved in surface analysis. 1.2 The definitions listed apply to (a) Auger electron spectroscopy (AES), (b) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), (c) ion-scattering spectroscopy (ISS), (d) secondary ion mass spectrometry (SIMS), and (e) energetic ion analysis (EIA). |
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
