Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
Automaticky přeložený název:
Standardní Příručka pro interpretaci rentgenových snímků polovodičů a souvisejících zařízení
NORMA vydána dne 10.12.1996
Označení normy: ASTM E431-96(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1996
Kód zboží: NS-46758
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographs, radiography, reference illustrations, semiconductors, x-ray, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
1. Scope | ||||||||
1.1 This guide provides illustrations of radiographs of semiconductors and related devices. Low powered transistors (through the TO-11 case configuration), diodes, low-power rectifiers, power devices, and integrated circuits are illustrated with common assembly features. Particular areas of construction are featured for these devices detailing critical points of design or assembly. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||
2. Referenced Documents | ||||||||
|
Poslední aktualizace: 03.05.2024 (Počet položek: 2 896 946)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.