Norma ASTM E3517/E3517M-26 1.2.2026 náhled

ASTM E3517/E3517M-26

Standard Practice for Flaw Sizing using Total Focusing Method

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.2.2026


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1529.10 bez DPH
1 529.10

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E3517/E3517M-26
Datum vydání normy: 1.2.2026
Kód zboží: NS-1263091
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E3517/E3517M-26 :

Keywords:

flaw sizing, full matrix capture, plane-wave imaging, total focusing method, ultrasonic,

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.