ASTM E2445/E2445M-20

Standard Practice for Performance Evaluation and Long-Term Stability of Computed Radiography Systems

Přeložit název

NORMA vydána dne 15.6.2020


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 110.30 bez DPH
2 110.30

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2445/E2445M-20
Datum vydání normy: 15.6.2020
Kód zboží: NS-1000119
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Nedestruktivní zkoušení

Anotace textu normy ASTM E2445/E2445M-20 :

Keywords:
basic spatial resolution, burn-in, central beam alignment, contrast sensitivity, CR phantom, EPS, erasure, geometric distortion, imaging plate artifacts, imaging plate fading, laser beam scan line integrity, laser jitter, PMT non-linearity, scan column dropout, scanner slippage, spatial linearity,, ICS Number Code 19.100 (Non-destructive testing)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.