ASTM E2382-04(2012)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

Automaticky přeložený název:

Standardní Průvodce po Scanner a Tip Související Artefakty v Scanning Tunneling mikroskopie a mikroskopie atomárních sil



NORMA vydána dne 1.11.2012


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 109.30 bez DPH
2 109.30

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2382-04(2012)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2012
Kód zboží: NS-45189
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Vlastnosti ploch

Anotace textu normy ASTM E2382-04(2012) :

Keywords:

Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.