Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Automaticky přeložený název:
Standardní zkušební metoda pro použití 2N2222A Silicon bipolárních tranzistorů , jako neutronové Spectrum Senzory a vysídlení Monitory Damage
NORMA vydána dne 10.12.1996
Označení normy: ASTM E1855-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1996
Kód zboží: NS-43330
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
Displacement damage, Neutron damage, Radiation hardness, Silicon transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectron)
| 1. Scope | ||||||||||||||||||||||
|
1.1 This test method covers how 2N2222A silicon bipolar transistors can be used either as dosimetry sensors in the determination of neutron energy spectra, or as silicon 1-MeV equivalent displacement damage fluence monitors. |
||||||||||||||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||||||||||||||
|
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 09.01.2026 (Počet položek: 2 253 999)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.