Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM E1438-91(2001)
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Automaticky přeložený název:
Standardní Průvodce pro měření šířky Interfaces v prskat hloubkové profilování pomocí SIMS
NORMA vydána dne 15.9.1991
Informace o normě:
Označení normy: ASTM E1438-91(2001)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.9.1991
Kód zboží: NS-41754
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM E1438-91(2001) :
Keywords:
data analysis-spectrochemical, depth resolution, interface width, profile distortion, secondary ion mass spectrometry (SIMS), ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Doplňující informace
| 1. Scope | ||
|
1.1 This guide provides the SIMS analyst with a method for determining the width of interfaces from SIMS sputtering data obtained from analyses of layered specimens. This guide does not apply to data obtained from analyses of specimens with thin markers or specimens without interfaces such as ion-implanted specimens. 1.2 This guide does not describe methods for the optimization of interface width or the optimization of depth resolution. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||
| 2. Referenced Documents | ||
|
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
