Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.10.2026
Označení normy: ASTM E1438-26
Datum vydání normy: 1.10.2026
Kód zboží: NS-1288307
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Poslední aktualizace: 12.11.2026 (Počet položek: 2 209 301)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.