ASTM E1438-11(2019)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

Přeložit název

NORMA vydána dne 1.11.2019


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 484.60 bez DPH
1 484.60

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1438-11(2019)
Datum vydání normy: 1.11.2019
Kód zboží: NS-976108
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Polovodičové materiály

Anotace textu normy ASTM E1438-11(2019) :

Keywords:

ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.