ASTM E1426-98(2009)e1

Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress (Includes all amendments And changes 2/27/2015).

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro stanovení efektivní Elastic parametrem pro rentgenová difrakce Měření zbytkových napětí



NORMA vydána dne 1.6.2009


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 020.00 bez DPH
2 020.00

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1426-98(2009)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2009
Kód zboží: NS-41723
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1426-98(2009)e1 :

Keywords:

elastic parameter, residual stress, x-ray diffraction, Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress--metallic materials, X-ray diffraction analysis, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.