Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
Automaticky přeložený název:
Standardní zkušební metoda pro Použití ionizačních komor k posouzení nízkou energetickou Gamma Součást Cobalt -60 ozařovačů používaných v radiační - tvrdosti Testování křemíkových elektronických zařízení
NORMA vydána dne 10.6.2000
Označení normy: ASTM E1250-88(2000)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2000
Kód zboží: NS-41012
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
Cobalt-60 irradiators, Electrical conductors-semiconductors, Electronic hardness, Electronic materials/applications, Gamma radiation, Hardness tests-radiation (of semiconductors), Ionizing radiation, Irradiance/irradiation, Low-energy gamma radiation, Photon energy spectrum, Radiation exposure-nuclear materials/applications, Radiation-hardness testing, Silicon-semiconductor applications, ionization chambers to assess the low energy gamma component of
1. Scope | ||||||
1.1 Low energy components in the photon energy spectrum of Co-60 irradiators lead to absorbed dose enhancement effects in the radiation-hardness testing of silicon electronic devices. These low energy components may lead to errors in determining the absorbed dose in a specific device under test. This method covers procedures for the use of a specialized ionization chamber to determine a figure of merit for the relative importance of such effects. It also gives the design and instructions for assembling this chamber. 1.2 This method is applicable to measurements in Co-60 radiation fields where the range of exposure rates is 7 X 10 -6 to 3 X 10 -2 C kg -1 s -1 (approximately 100 R/h to 100 R/s). For guidance in applying this method to radiation fields where the exposure rate is >100 R/s, see Appendix X1. Note 1-See Terminology E170 for definition of exposure and its units.1.3 The values stated in SI units are to be regarded as the standard. The values given in parentheses are for information only. 1.4 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||
2. Referenced Documents | ||||||
|
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 01.09.2024 (Počet položek: 2 345 425)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.