ASTM E1161-95

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro radiologické vyšetření polovodičů a elektronických součástek



NORMA vydána dne 1.1.1995


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1601.80 bez DPH
1 601.80

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1161-95
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1995
Kód zboží: NS-40676
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1161-95 :

Keywords:

Defects,emsemiconductors, Electrical conductors,emsemiconductors, Electronic materials/applications, Sealing glass defects, Voids, X-irradiation, radiographic testing of semiconductors and electronic components, test,, Radiographic testing, semiconductors and electronic components, test,,Order Form, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.