ASTM E1161-03

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro radiologické vyšetření polovodičů a elektronických součástek



NORMA vydána dne 10.6.2003


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 498.70 bez DPH
1 498.70

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1161-03
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2003
Kód zboží: NS-40673
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1161-03 :

Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographic, radioscopy, semiconductors, X-Ray

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.