Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 1.10.2024
Označení normy: ASTM E1127-24
Datum vydání normy: 1.10.2024
Kód zboží: NS-1202540
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,
Poslední aktualizace: 11.03.2025 (Počet položek: 2 231 896)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.