NORMSERVIS s.r.o.

ISO 6342:2003-ed.2.0

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area

NORMA vydána dne 15.7.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1366.60 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1366.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ISO 6342:2003-ed.2.0
Datum vydání normy: 15.7.2003
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO

Anotace textu normy ISO 6342:2003-ed.2.0 :

Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.