ISO 24173:2024-ed.2.0

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

NORMA vydána dne 9.2.2024

Anglicky -
Elektronické PDF (5784.90 CZK)
Anglicky -
Tištěné (5784.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ISO 24173:2024-ed.2.0
Datum vydání normy: 9.2.2024
Počet stran: 40
Přibližná hmotnost: 120 g (0.26 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO

Anotace textu normy ISO 24173:2024-ed.2.0 :

Description / Abstract: This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.