NORMSERVIS s.r.o.

ISO 17297:2025

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary

NORMA vydána dne 26.5.2025

Anglicky -
Elektronické PDF (3117.50 CZK)
Anglicky -
Tištěné (3117.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ISO 17297:2025
Datum vydání normy: 26.5.2025
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy ISO

Anotace textu normy ISO 17297:2025 :

Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).