Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Micro-elektromechanické zařízení - Část 21: Zkušební metoda pro Poissonovo poměr tenkého filmu MEMS materiály.
NORMA vydána dne 1.4.2015
Označení normy: DIN EN 62047-21:2015-04
Datum vydání normy: 1.4.2015
Kód zboží: NS-583027
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik.
1.4.2014
1.2.2007
1.4.2015
1.4.2015
NEPLATNÁ
1.5.2014
NEPLATNÁ
1.5.2014
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 26.04.2024 (Počet položek: 2 896 057)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.