Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu..
NORMA vydána dne 1.3.2007
Označení normy: DIN EN 60749-35:2007-03
Datum vydání normy: 1.3.2007
Kód zboží: NS-237829
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.
1.12.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
NEPLATNÁ
1.4.2003
1.7.2004
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 05.05.2024 (Počet položek: 2 897 047)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.