DIN EN 60749-35:2007-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.

NORMA vydána dne 1.3.2007

Německy -
PDF - okamžité stažení (2288.60 CZK)

Německy -

Tištěné (2766.50 CZK)

Německy -

CD-ROM (2325.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-35:2007-03
Datum vydání normy: 1.3.2007
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-35:2007-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik.