Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in February of 2026.)
NORMA vydána dne 1.2.2026
Označení normy: UNE-EN IEC 60749-7:2026
Datum vydání normy: 1.2.2026
Počet stran: 21
Přibližná hmotnost: 63 g (0.14 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE