Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
NORMA vydána dne 1.10.2020
Označení normy: UNE-EN IEC 60749-41:2020
Datum vydání normy: 1.10.2020
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE