UNE-EN IEC 60749-37:2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)

NORMA vydána dne 1.1.2023

Anglicky -
Elektronické PDF (1729.60 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1903.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN IEC 60749-37:2022
Datum vydání normy: 1.1.2023
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE