Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in September of 2025.)
NORMA vydána dne 1.9.2025
Označení normy: UNE-EN IEC 60749-34-1:2025
Datum vydání normy: 1.9.2025
Počet stran: 37
Přibližná hmotnost: 111 g (0.24 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE