Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2019.)
NORMA vydána dne 1.7.2019
Označení normy: UNE-EN IEC 60749-18:2019
Datum vydání normy: 1.7.2019
Počet stran: 29
Přibližná hmotnost: 87 g (0.19 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE