UNE-EN IEC 60749-17:2019

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in June of 2019.)

NORMA vydána dne 1.6.2019

Anglicky -
Elektronické PDF (1279.70 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1407.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN IEC 60749-17:2019
Datum vydání normy: 1.6.2019
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE