Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 4: Edge method
NORMA vydána dne 31.5.2000
Označení normy: UNE-EN 12543-4:2000
Datum vydání normy: 31.5.2000
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE