Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)
NORMA vydána dne 1.10.2010
Označení normy: UNE-EN 62418:2010
Datum vydání normy: 1.10.2010
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE