Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)
NORMA vydána dne 1.9.2010
Označení normy: UNE-EN 62415:2010
Datum vydání normy: 1.9.2010
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE