Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)
NORMA vydána dne 1.11.2013
Označení normy: UNE-EN 62374:2007
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2013
Počet stran: 25
Přibližná hmotnost: 75 g (0.17 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE