Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
NORMA vydána dne 1.11.2013
Označení normy: UNE-EN 62047-18:2013
Datum vydání normy: 1.11.2013
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE