UNE-EN 60749-9:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)

NORMA vydána dne 1.7.2017

Anglicky -
Elektronické PDF (1136.90 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1250.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: UNE-EN 60749-9:2017
Datum vydání normy: 1.7.2017
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE