Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
NORMA vydána dne 30.5.2003
Označení normy: UNE-EN 60749-7:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.5.2003
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Španělská technická norma
Kategorie: Technické normy UNE