UNE-EN 60749-7:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

NORMA vydána dne 30.5.2003

Anglicky -
Elektronické PDF (1342.10 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1475.60 CZK)

Španělsky -

Elektronické PDF (1118.80 CZK)

Španělsky -

Tištěné (1230.50 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: UNE-EN 60749-7:2003
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 30.5.2003
The number of pages: 23
Approximate weight : 69 g (0.15 lbs)
Country: Spanish technical standard
Kategorie: Technické normy UNE